XRF鍍層測厚儀Supreme電鍍液離子濃度分析儀 返回列表頁

Supreme是譜睿儀器針對鍍層無損檢測研發的一款X射線熒光光譜儀，適用于電鍍、化學鍍、連接器等行業。該產品使用美國AMPTEK定制Fast-SDD探測器，內置NUC工控電腦，運行Smart FP算法，應用創新型X射線與可見光共焦點垂直光路，實際照射焦斑更小。無需標樣，可同時檢測鍍層厚度及成分，支持10層檢測。檢測速度快、穩定性好、準確性高。

產品特點

l  元素檢測范圍：鋁(13)～鈾(92)    

l  可支持10層檢測

l  可同時支持鍍層厚度和成分檢測

l  分析范圍：

u  鍍層: 0.001um~80um

u  貴金屬: 0.010%~99.999%

u  液體: 5mg/L~200g/L

u  RoHS: 10ppm~99.99%

l  檢測精度：

u  鍍層: RSD ≤1.5%

u  貴金屬: ±0.01% (9999 金)

u  液體: RSD ≤1.5%

u  RoHS: 1ppm（理想基體效應）

l  檢測樣品：鍍層/貴金屬合金/液體/RoHS

l  三準直器，多濾光片自動切換

l  遵守ISO23345、ISO3497和ASTM-B568標準

l  XY微動平臺

n  行程：50mm×50mm

l  鉛玻璃窗口，方便觀察樣品

核心部件

l  探測器：AMPTEK定制Fast-SDD探測器

n  面積：25mm²

n  分辨率：125±5eV

l  內置工控電腦：Intel i5十二核

l  高壓電源：50KV/1mA數字高壓電源

l  X射線管：50KV/1mA

n  窗口材料：鈹

n  靶材：鎢

n  焦點：Φ0.1mm

l  準直器：0.1×0.2mm/Φ0.35mm/Φ1.5mm