BRUKER布魯克 干涉顯微鏡 ContourX-1000

BRUKER布魯克 干涉顯微鏡 ContourX-1000

入門級臺式白光干涉顯微鏡 ContourX-100

ContourX-100 是一款精簡型設備，融合了布魯克數十年來在創新型白光干涉測量 (WLI) 技術方面的專業經驗，可提供毫不妥協的 2D/3D 高分辨率測量能力。這款配備量規的臺式系統擁有直觀易用的界面，可輕松訪問豐富的預設濾波和分析功能庫，適用于精密加工表面、厚膜、摩擦學應用等多種應用，從而快速提供高精度測量數據。

靈活的表面紋理測量功能：臺式白光干涉顯微鏡 ContourX-200

ContourX-200 光學輪廓儀是一款 的高速、高精度、可重復性高的非接觸式三維表面輪廓測量系統， 融合了優良的表征功能、可定制選項和易用性。這款緊湊型系統配備了測量儀，具有寬廣的測量范圍、500萬像素數碼相機和新型電動XY平臺，可實現高分辨率的二維/三維測量。ContourX-200 由業界 的操作和分析軟件 Vision64 提供支持。

臺式白光干涉顯微鏡 Contour X-500，具備自動化功能。

ContourX-500 光學輪廓儀是 的自動化臺式系統，可實現高速、非接觸式三維表面輪廓測量。該系統配備布魯克專有的傾斜/俯仰光學頭，能夠從各種角度進行 可編程的表面輪廓測量，同時 限度地減少跟蹤誤差。ContourX-500 內置量規，具 高的 Z 軸分辨率和精度，在節省空間、結構緊湊的機身中，具備布魯克白光干涉 (WLI) 立式輪廓儀的所有優勢。

TTM

力學性能評價

PEEForce QNM

相位，摩擦

力譜學

力調節

納米壓痕

力體積

接觸共振映射

AFM納米DMA

納米光刻與納米操控

進入模式

電氣特性評估

Liftmode 和 Darklift

EFM

KPFM（AM 和 FM），Peakforce KPFM

C-AFM 和DCUBE-CAFM

TUNA & Peakforce TUNA & DCUBE-TUNA

PFM、DCUBE-PFM、DCUBE-CR-PFM和SS-PFM

供應鏈管理與DCUBE-SCM

SSRM 和DCUBE-SSRM

sMIM 和Peakforce sMIM和DCUBE-SMIM

MFM 和扭轉共振 MFM

除此處列出的型號外，我們還提供其他模式和配件組合。詳情請聯系我們。

納米紅外光譜和原子力顯微鏡是兩種成熟的技術，它們被集成到一個系統中。

IconIR 的特點

光譜性能與 FTIR 光譜相關

具有 10 nm 空間分辨率的化學成像

表面靈敏度高，甚至可以檢測單層薄膜

的形狀屬性相關顯微鏡，得益于其獨特的 PeakForce 敲擊模式。

大型 AFM（空氣功能微站）類別中性能的平臺

多種測量模式和豐富的配件。

布魯克不斷發展的納米紅外技術

應用領域

聚合物材料

薄膜

半導體和電子材料

二維材料與等離子體激元學

其他的

環境科學

藥店

太陽能電池

文化遺產

納米紅外光譜與傅里葉變換紅外光譜相關，使數據庫分析更容易。

實現了空間分辨率<10nm的化學成像和單層靈敏度。

通過對納米尺度特征的關聯觀察進行多方面性能評估

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? 產品咨詢及問詢

下一代納米級紅外光譜系統集成原子力顯微鏡 Dimension IconIR

備受期待的新一代納米級紅外光譜系統

——Dimension IconIR New

布魯克的原子力顯微鏡Dimension Icon，無論在國內還是國際市場，都是安裝量的產品。

如今，它終于將布魯克的多項專有技術（例如PeakForce Tapping技術）與納米紅外光譜技術相結合。除了其成熟的機械和電學性能分析技術外，現在還可以在同一系統上進行納米級紅外光譜分析。

產品咨詢與咨詢

nanoIR3 光譜（納米尺度紅外光譜系統 AFM-IR）

無模型紅外光譜分析

Anasys nanoIR3

這款高分辨率多功能測量系統集成了原子力顯微鏡 (AFM)、脈沖可調諧激光器和熱探針，可實現亞10納米空間分辨率范圍內的紅外光譜局部分析、紅外吸收圖譜、AFM圖像、表面硬度圖像和熱分析。其特點包括： • 采用波數

與傅里葉變換紅外光譜 (FT-IR) 高度相關的

量子級聯激光器/光參量振蕩器 (QCL/OPO) ，并針對特定應用的光譜分析進行定制。

• FASTSpectra 技術不僅可以獲得點光譜，還可以實現高速全光譜

成像

。• 與之前的微型傅里葉變換紅外光譜 (micro-FT-IR) 系統相比，分辨率顯著提高。

• 新型輕敲式原子力顯微鏡 (Tapping AFM) 可提供分辨率為10納米的化學成像。

掃描近場光學顯微鏡 (S-SNOM

) Anasys nanoIR3-s

該系統具備與 nanoIR3 相同的規格，并新增了散射近場光學顯微鏡 (s-SNOM) 功能。它能夠以 10nm 或更低的空間分辨率進行光學特性成像，是分析石墨烯、二維材料和納米天線等無機材料的理想解決方案。該系統與原子力顯微鏡-紅外光譜儀 (AFM-IR) 的集成使其應用范圍廣泛，涵蓋有機和無機分析。主要特點

包括：• 除 AFM-IR 外，還具備 s-SNOM 功能

• 提供與 AFM-IR 相同 10nm 分辨率的 s-SNOM 圖像

• 適用于無機和半導體應用

掃描近場光學顯微鏡（S-SNOM 寬帶） 新型Anasys nanoIR3-s 寬帶

布魯克 nanoIR3-s Broadband 是一款基于散射型近場光學顯微鏡 (s-SNOM) 技術的優良納米級傅里葉變換紅外光譜系統，利用寬帶紅外光 (670–4,000 cm?1) 提供業界的高分辨率納米化學和納米光學成像。其主要特點包括：

寬帶紅外光譜測量和高分辨率納米化學成像；

針對二維/石墨烯材料的高質量光譜測量和成像；

納米級材料特性映射技術以及多種樣品環境控制選項。