Name: Scios 2 DualBeam聚焦離子束掃描電子顯微鏡
Brand: 賽默飛電子顯微鏡
Price: -1 CNY
Availability: InStock

Scios 2 DualBeam聚焦離子束掃描電子顯微鏡，用于超高分辨率、高質量樣品制備和 3D 表征

Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 是一套超高分辨率的分析聚焦離子束掃描電子顯微鏡 (FIB-SEM) 系統，可為包括磁性和非導電材料在內的各種樣品提供出色的樣品制備與 3D 表征性能。通過創新的功能設計提高了通量、精度以及易用性，是滿足科學家和工程師在學術、政府以及工業研究領域高級研究和分析需求的理想解決方案。

優化您的解決方案

靈活的 DualBeam 配置，包括可選配的最高 500 Pa 腔室壓力低真空模式，可滿足具體的應用要求。

使用 Sidewinder HT 離子柱獲得高質量、現場特定的 TEM 和原子探針樣品。

超高分辨率成像

使用在泛的樣品范圍（包括磁性和非導電材料）內具有性能的 Thermo Scientific NICol 電子色譜柱。

高質量、多模式亞表面和 3D 信息

使用可選配的 AS&V4 軟件，通過精確靶向感興趣區域來獲得高質量、多模式亞表面和 3D 信息。

無偽影成像和構成圖案

具有專用模式，如 DCFI、漂移抑制和 Thermo Scientific SmartScan 模式。

規格

電子束分辨率	最佳 WD 在 30 keV STEM 下為 0.7 nm 在 1 keV 下為 1.4 nm 在 1 keV（射束減速）下為 1.2 nm
電子束參數空間	電子束電流范圍：1 pA 至 400 nA 著陸能量范圍：20* eV – 30 keV 加速電壓范圍：200 V – 30 kV 最大水平射野寬度：7 mm WD 時為 3.0 mm，60 mm WD 時為 7.0 mm 可通過標準導航剪輯提供超寬視野 (1×)
離子光學系統	加速電壓：500 V – 30 kV 電子束電流范圍：1.5 pA – 65 nA 15 位置光闌條漂移抑制模式，為非導電樣品的標準模式最小離子源壽命：1,000 小時離子束分辨率：選擇角方法下 30kV 時為 3.0 nm
檢測器	Trinity 檢測系統（鏡筒內和色譜柱內） T1 分段式下鏡筒內檢測器 T2 上鏡筒內檢測器 T3 可伸縮色譜柱內檢測器（可選配）多達 4 個同時檢測的信號 Everhart-Thornley SE 檢測器 (ETD) 用于二級離子 (SI) 和二級電子 (SE) 的高性能離子轉換和電子檢測器 (ICE)（可選配）可伸縮、低電壓、高對比度、分段式、固態反向散射電子檢測器 (DBS)（可選配）帶 BF/DF/HAADF 分段的可伸縮 STEM 3+ 檢測器（可選配）查看樣品和腔室的 IR 攝像機腔室內 Nav-Cam 樣品導航攝像機（可選配）集成的光束電流測量
載物臺和樣品	靈活的 5 軸電動平臺： XY 范圍：110 mm Z 范圍：65 mm 旋轉：360°（無限）傾斜范圍：-15° 至 +90° XY 重復性：3 μm 最大樣品高度：與共心點間距 85 mm 0° 傾斜時的最大樣品重量：5 kg （包括樣品架）最大樣品尺寸：旋轉時 110 mm（也可以是更大的樣品，但旋轉有限）計算中心旋轉和傾斜